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X射线荧光光谱(XRF)分析法是对各种各样材料进行元素测定的一种现代化的通用分析方法 。不管是块状样品 、粉末样品还是液体样品 ，位于元素周期表上从11号元素铍（Na）到92号元素铀（U）之间的几乎所有元素都可以进行精确的定性 、定量和无标样分析 。

波长色散X荧光分析仪是我公司总结我国多年来研制该类型仪器的经验和教训,并吸收与参照国际先进技术基础上,深入进行产业化研发形成的高科技产品,各项技术性能指标均已达到国际同类产品水平。

X射线荧光镀层测厚仪是采用能量色散X荧光分析技术，同时测量多种元素的分析仪器，根据用户应用要求可配置为从Na到U的任意多种元素的分析测定 。另外配以功能齐全的测试软件 、友好的操作界面来满足金属镀层及元素含量测定的需要，人性化的设计 ，使测试工作更加轻松完成 。此仪器具有测量元素含量与镀层厚度检测的两种功能 。

便携式X射线荧光光谱仪是采用能量色散X荧光分析技术，同时测量多种元素的分析仪器 ，根据用户应用要求可配置为从Na到U的任意多种元素的分析测定 。该仪器可广泛应用于环保 、考古 、建材 、野外采矿、垃圾回收 、RoHS指令等各种行业 。

波长色散X荧光分析仪是我公司总结我国多年来研制该类型仪器的经验和教训,并吸收与参照国际先进技术基础上 ，深入进行产业化研发形成的高科技产品 ，各项技术性能指标均已达到国际同类产品水平 。X荧光分析仪可以应用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的领域 ，例如建材(水泥 、玻璃 、陶瓷) 、冶金(钢铁、有色金属)、石油（微量元素如S、Pb等） 、化工、地质采矿、商品检验、质量检验甚至人体微量元素的检验等等。是常量分析和微量分析的可靠工具 ，也应用于大专院校和科研单位 。